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產品展示
  • XEM吸附分析儀器
    XEMIS是一款高精度的吸附微量天平,用于環境下的精密測量。它可作為微量天平單獨使用,也可作為完整的吸附分析儀器。XEMIS有著出色的靈活性以及的稱量精度和穩定性。 XEMIS微量天平采用了HidenIsochema特有的外部感知技術,可在高溫、高壓條件下進行重量吸附分析,也可與其他商業化的吸附微量天平儀器聯用。
    時間:2020-07-27型號:XEM瀏覽量:92
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